ANT测例流程图
2021-11-07 14:36:06 3 举报
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大纲/内容
CASE 1: gpio输入模式
测例编号:T_SOC_PERI_CP_08
测试方法:1. 使能所需测试pad的GPIO功能2. 配置gpio_dir为输入模式3. 使用MCU拉高或拉低该pad4. 读取GPIO_STATUS查看输入信号值,比较是否一致
CASE 2: PWM输出中断功能
测例编号:T_SOC_PERI_CP_14
测试方法:1. 配置的full_buffer在每次cnt自减为1时会输出中断
CASE 3: gpio中断及其屏蔽和清楚中断检测
测例编号:T_SOC_PERI_CP_10
CASE 5: i2c做从设备
测例编号:T_SOC_PERI_CP_04
测试方法:MCU配置为主设备,通过i2c接口将数据写入rxfifo内,内部cpu等可以读取该数据,判断与输入是否一致。
CASE 4: i2c中断功能
测例编号:T_SOC_PERI_CP_03
CASE 3: DEBUG IO + CLK_OBS 测试
测例编号:T_SOC_IO_CP_03
CASE 1: i2c 7bit 地址读写
测例编号:T_SOC_PERI_CP_01
测试方法:MCU设置为从设备,host端通过pcie配置ant i2c为主设备,发起7bit地址读写操作,读写从设备内某地址寄存器,能够正确读写;
CASE 1: REFCLK_in + PLL 任一测试
测例编号:T_SOC_IO_CP_01
CASE 2: gpio输出模式
测例编号:T_SOC_PERI_CP_09
测试方法:1. 使能所需测试pad的GPIO功能;2. 配置gpio_dir为输出模式;3. 通过向寄存器GPIO_CTRL写入输出值可控制GPIO管脚输出电平;4. 使用片外MCU或示波器测量pad与驱动预期是否一致;
特殊IO测例
所需材料:部分HOST代码 + 示波器
CASE 2: RSTN_DOEN + top_crg reset function 测试
测例编号:T_SOC_IO_CP_02
测试方法:1. 解复位芯片,复位完成状态信号通过RSTN_DONE输出给MCU
CASE 1: PWM输出占空比
测例编号:T_SOC_PERI_CP_18
GPIO测例
所需材料:HOST代码 + MCU代码 + 示波器
CASE 3: i2c复位检查
测试方法:1. 完成一笔i2c正常读写之后,复位i2c模块后解复位,重新初始化,i2c依旧能正常工作;2. 在i2c读写过程中,复位i2c模块后解复位, i2C依旧能正常工作(复位时从设备释放sda)
CASE 4: gpio debounce 功能
测例编号:T_SOC_PERI_CP_11
I2C测例
所需材料:HOST代码 + MCU代码
APB 2 JTAG测例
所需材料:HOST代码
优先级从高到低
CASE 5: gpio 复位检测
测例编号:T_SOC_PERI_CP_12
测试方法:1. 复位gpio模块后解复位, gpio能够正常工作,能正常拉高拉低
CASE 2: ant mbist测试
测例编号:
测试方法:1. 执行MLU370 Debug Tool,通过打印的log判断memery测试是否通过
CASE 1: apb2jtag功能
测例编号:T_SOC_PERI_CP_15
测试方法:APB对JTAG寄存器读写操作正常
PWM测例
所需材料:HOST代码 + 示波器
CASE 2: i2c 10bit 地址读写
测例编号:T_SOC_PERI_CP_02
测试方法:MCU设置为从设备,host端通过pcie配置ant i2c为主设备,发起10bit地址读写操作,读写从设备内某地址寄存器,能够正确读写;
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