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循环寿命测试流程图
2022-01-07 16:14:46
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毕设算法
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容量测试
容量衰退、内阻增加
相变区间
ICA测试
20%DOD区间
性能测试
不同SOC区间100次循环
分区间循环寿命测试
HPPC测试
实用区间
在25℃下完成性能测试
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循环寿命测试流程图
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